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風冷式(shi)高低溫沖擊試(shi)(shi)驗箱原理(li)適(shi)用范圍廣泛，可(ke)適(shi)用于電子電器零組(zu)件(jian)(jian)、自動化零部件(jian)(jian)、通訊組(zu)件(jian)(jian)、汽(qi)車配件(jian)(jian)、金屬、化學(xue)材(cai)料、塑膠等行業，測試(shi)(shi)其材(cai)料對(dui)高、低溫的(de)反(fan)復熱脹(zhang)冷縮(suo)產出(chu)的(de)化學(xue)變化或(huo)物理(li)傷害，可(ke)確認產品的(de)品質，從精密IC到重(zhong)機械的(de)組(zu)件(jian)(jian)，無一不需要它，是理(li)想(xiang)測試(shi)(shi)工具(ju)。

風冷式高(gao)低溫沖(chong)擊試(shi)驗箱適(shi)用(yong)(yong)范圍廣泛(fan)，可適(shi)用(yong)(yong)于電(dian)子電(dian)器零組件(jian)(jian)、自動化零部件(jian)(jian)、通訊組件(jian)(jian)、汽車配件(jian)(jian)、金屬、化學(xue)材料、塑膠等(deng)行業，測(ce)試(shi)其材料對高(gao)、低溫的(de)反復熱脹冷縮產出的(de)化學(xue)變化或物理(li)傷害，可確(que)認產品(pin)(pin)的(de)品(pin)(pin)質，從精密(mi)IC到重(zhong)機(ji)械的(de)組件(jian)(jian)，無一不需(xu)要它，是理(li)想(xiang)測(ce)試(shi)工具。

小型高低溫(wen)(wen)沖擊(ji)試驗箱廠家適用于電工電子產品，電子零部件(jian)的(de)冷熱交替沖擊(ji)試驗。產品可滿(man)足CNS、MIL、IEC、JIS、GB/T2423.是利用低溫(wen)(wen)及高溫(wen)(wen)蓄冷熱槽(cao)，依動作需要，將(jiang)吊(diao)籃快(kuai)速移動到冷熱槽(cao)內,從而(er)達到快(kuai)速溫(wen)(wen)度沖擊(ji)效果,平衡(heng)調(diao)溫(wen)(wen)控制系(xi)統(tong)（BTC） 特殊(shu)設計之送風循環(huan)系(xi)統(tong),以P.I.D.方式控制SSR,使系(xi)統(tong)之加(jia)熱量(liang)等于熱損耗量(liang),故能*穩定的(de)使用.

高低溫(wen)沖擊試(shi)驗箱是金(jin)屬、塑料(liao)、橡膠、電子等材料(liao)行業*的(de)測試(shi)設備，用于測試(shi)材料(liao)結構(gou)或(huo)復(fu)合(he)材料(liao)，在(zai)瞬間(jian)下(xia)經*溫(wen)及(ji)極低溫(wen)的(de)連(lian)續環境下(xia)忍受的(de)程度，得以在(zai)短時間(jian)內檢測試(shi)樣因熱脹(zhang)冷縮(suo)所引(yin)起的(de)化學變化或(huo)物(wu)理傷害。

兩箱(xiang)式冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)是金屬、塑(su)料、橡膠、電子(zi)等材料行(xing)業*的測(ce)試(shi)設備，用于測(ce)試(shi)材料結構(gou)或復(fu)合材料，在瞬(shun)間下經*溫及極低溫的連續環境下忍受的程度，得以在短時間內檢(jian)測(ce)試(shi)樣因熱脹冷(leng)縮所引起的化(hua)學變化(hua)或物理傷害。冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)滿足的試(shi)驗方法(fa)：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖(chong)擊試(shi)驗。

高低溫沖擊試(shi)驗(yan)箱是金屬、塑料、橡膠、電(dian)子等材料行業*的(de)(de)測(ce)試(shi)設備，用于(yu)測(ce)試(shi)材料結構或(huo)復合材料，在(zai)瞬(shun)間下(xia)經(jing)*溫及極低溫的(de)(de)連續環境下(xia)忍受(shou)的(de)(de)程度，得以(yi)在(zai)短時間內檢測(ce)試(shi)樣因熱脹(zhang)冷縮所(suo)引起的(de)(de)化(hua)學變化(hua)或(huo)物理傷害。