高低溫沖擊試驗箱類型可(ke)(ke)(ke)為(wei)用(yong)戶(hu)(hu)(hu)檢驗、檢測(ce)電子電工元器件、零配件或相關行(xing)業(ye)的(de)(de)(de)實驗部門提(ti)供一個模(mo)擬環境，為(wei)測(ce)試(shi)數據(ju)的(de)(de)(de)準確(que)性(xing)和*性(xing)（可(ke)(ke)(ke)重復）提(ti)供*條(tiao)件。該(gai)產(chan)品具有簡單的(de)(de)(de)操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)性(xing)能(neng)(neng)(neng)和可(ke)(ke)(ke)靠的(de)(de)(de)設(she)備性(xing)能(neng)(neng)(neng)，便(bian)捷(jie)操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)的(de)(de)(de)計測(ce)裝置，溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)器，采用(yong)*的(de)(de)(de)中(zhong)文液(ye)晶顯示畫面觸摸(mo)屏，可(ke)(ke)(ke)進行(xing)各種復雜的(de)(de)(de)程(cheng)(cheng)序設(she)定，程(cheng)(cheng)序設(she)定采用(yong)對(dui)話方式，操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)簡單、迅速。可(ke)(ke)(ke)實現制(zhi)冷(leng)機(ji)自動(dong)運(yun)轉，大程(cheng)(cheng)度(du)上(shang)實現自動(dong)化，減輕操(cao)(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)人員工作(zuo)(zuo)(zuo)時(shi)間(jian)，可(ke)(ke)(ke)在任意(yi)時(shi)間(jian)自動(dong)啟動(dong)、停止、工作(zuo)(zuo)(zuo)運(yun)行(xing)，各系統工作(zuo)(zuo)(zuo)（風機(ji)，制(zhi)冷(leng)去濕(shi)，加熱）由觸摸(mo)屏人機(ji)界(jie)面集中(zhong)控(kong)制(zhi)。整體在客(ke)戶(hu)(hu)(hu)方進行(xing)裝配，運(yun)輸(shu)擺放(fang)方便(bian)，并在客(ke)戶(hu)(hu)(hu)方進行(xing)現場(chang)調試(shi)和驗收，保(bao)(bao)證在客(ke)戶(hu)(hu)(hu)方的(de)(de)(de)使用(yong)性(xing)能(neng)(neng)(neng)；結構一體化程(cheng)(cheng)度(du)高(gao)，在客(ke)戶(hu)(hu)(hu)端(duan)裝配調試(shi)時(shi)間(jian)短；科學的(de)(de)(de)空氣流(liu)通設(she)計，使室內溫(wen)度(du)均勻，避免任何死角；完備的(de)(de)(de)安全保(bao)(bao)護裝置，避免了任何可(ke)(ke)(ke)能(neng)(neng)(neng)發生的(de)(de)(de)安全隱患(huan)，保(bao)(bao)證設(she)備的(de)(de)(de)*可(ke)(ke)(ke)靠性(xing)；每(mei)個產(chan)品都(dou)根據(ju)客(ke)戶(hu)(hu)(hu)的(de)(de)(de)要求訂做，保(bao)(bao)證了設(she)備的(de)(de)(de)高(gao)效，節能(neng)(neng)(neng)。

高低溫沖擊試驗箱類型符(fu)合GB/T2423.1 低溫試(shi)驗(yan)方法、GB/T2423.2高溫試(shi)驗(yan)方法。GJB150.5-86溫度(du)沖擊試(shi)驗(yan)法 、GJB360A-96電子及電氣元件試(shi)驗(yan)方法。
GJB 150.3高溫試驗；GJB 150.4 低溫試驗；
GB10588-2006 高溫試驗箱技術(shu)條件；
GB10589-2006 低溫試驗(yan)箱技術條件；
GB/T10592高(gao)低溫試(shi)驗箱技術條(tiao)件；
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標準中所要求的試驗